
2025 L3: An Overview of Electronic Devices and Their Reliability (2)
2025 L3: Un aperçu des dispositifs électroniques et de leur fiabilité (2)
Thema TJFD

2025 L3: Un aperçu des dispositifs électroniques et de leur fiabilité (2)

Une nouvelle ère de l'électronique à semi-conducteurs - Partie 2

2025 L2: Introduction (2) /Un aperçu des dispositifs électroniques et de leur fiabilité (1)
![[2025 short course] 5-1: Wide bandgap GaN & SiC/ GaN OFF-state reliability](https://i.ytimg.com/vi/kvbVoPBfCtQ/maxresdefault.jpg)
[2025 cours court] 5-1 : Fiabilité à l'état bloqué du GaN et SiC/ GaN à large bande interdite

Une nouvelle ère de l'électronique à semi-conducteurs - Partie 1


2025 L1: Introduction_半導體元件可靠度及其失效物理 Fiabilité et physique des défaillances des dispositifs à semi-conducteurs
![[2025 short course] 4-2: Hot Carrier Injection/ Charge Detection/ Bias Temperature Instability](https://i.ytimg.com/vi/yWt--ll3TV0/maxresdefault.jpg)
[2025 short course] 4-2 : Injection de porteurs chauds / Détection de charge / Instabilité de température de polarisation

Apprentissage automatique dans la fabrication de semi-conducteurs




La prochaine grande nouveauté dans le domaine des semi-conducteurs

(NOUVEAU !) Nouveau matériau semi-conducteur : Wow (Top 5 des avancées technologiques de 2024)




Couche de déplétion (2) : Équation de Poisson et largeur dérivée

Jonction PN à l'équilibre thermique (3) : Potentiel de diffusion

Junction PN en équilibre thermique (1) : Intro

MOSFET: Effet de modulation de longueur de canal expliqué



Procédé semi-conducteur Lecture8 Intégration de processus

Processus de semi-conducteurs Lecture7 métallisation 4 201125

Processus de semi-conducteurs Lecture7 metallization 3 201123

Procédé de semi-conducteurs Lecture7 métallisation 2 201118

Procédé de semi-conducteurs Lecture6 cleaning Lecture7 metallization 1 201117






Processus de semi-conducteurs Lecture2 Implantation 4 Lecture3 Dépôt 1





